Методика анализа микро- и наномасштабных снимков промышленных изделий, ее реализация и применение
Алексей Александрович Орлов, д.т.н., доцент
заведующий кафедрой «Физика и прикладная математика», Муромский институт (филиал) федерального государственного бюджетного образовательного учреждения высшего профессионального образования "Владимирский государственный университет имени Александра Григорьевича и Николая Григорьевича Столетовых", г.Муром
Лев Васильевич Антонов,
магистрант кафедры «Информационные системы», Муромский институт (филиал) федерального государственного бюджетного образовательного учреждения высшего профессионального образования "Владимирский государственный университет имени Александра Григорьевича и Николая Григорьевича Столетовых", г.Муром
Аннотация:
Предлагается методика анализа снимков микро- и наноструктур промышленных материалов, позволяющая управлять процессом автоматического распознавания снимков. Методика основана на применении алгоритмов обработки изображений, базирующихся на интегральном преобразовании по сегменту полосы. Созданная методика лежит в основе реализованного программного комплекса, способного выделить и классифицировать микро- и нанодефекты и их признаки. Результаты работы внедрены на ряде машиностроительных и металлургических предприятий.
Ключевые слова:
Обработка изображений, линейчатая структура, промышленные материалы.
Шифры классификации:
УДК: 004.942
ГРНТИ: -
ВАК: 05.13.01
